Qmax V250
L’evoluzione dei package e la complessità dei componenti, oggi pongono degli interrogativi sulla scelta di
una metodologia di collaudo che garantisca la copertura necessaria.
Il nuovo V250, è stato sviluppato per il collaudo in linea e/o riparazione schede di nuova e vecchia generazione.
Il sistema ATE V250, integra le più avanzate metodologie di test oggi necessarie per il collaudo di schede elettroniche per l’industria Militare e Civile. Il tutto con un costo contenuto.
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Test Funzionaleda connettore
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Test In-Circuit Funzionale
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Test In- Circuit Parametrico
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Test JTAG
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Test Open/Short
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Test di misure AC/DC
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Learn e Compare dei test
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Bus Cycle Signature Learn & Compare
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Integrazione con PXI, USB, GPIB e piattaforme LXI
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Migrazione vettori di test da ATE di diversi fornitori
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Ricerca Guasti Automatica con Back Tracking
La AL Electronic, dispone di risorse tecniche locali per garantire un supporto tecnico secondo le aspettative del cliente.
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Per ulteriori informazioni: info@alelectronic.it – Tel 02 44 59 203